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2022-04-09
1.高壓IGBT器件封裝絕緣測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)高壓IGBT器件內(nèi)部承受的正極性重復(fù)方波電壓以及高溫工況，研制了針對(duì)高壓IGBT器件、芯片及封裝絕緣材料絕緣特性的測(cè)試系統(tǒng)(如圖1所示)，可實(shí)現(xiàn)電壓波形參數(shù)、溫度和氣壓的靈活調(diào)控，用于研究電壓類型(交、直流、重復(fù)方波電壓)、波形參數(shù)、氣體種類、氣體壓力等因素對(duì)絕緣特性，具備放電脈沖電流測(cè)量、局部放電測(cè)量、放電光信號(hào)測(cè)量、漏電流測(cè)量及紫外光子測(cè)量等功能(如圖2所示)，平臺(tái)相關(guān)參數(shù)：頻率：DC~20kHz，電壓：0~20kV，上升沿/下降沿...2022-04-08
1本產(chǎn)品采用新智能控制技術(shù)，通過選擇程序(IEC或ASTM)可自動(dòng)進(jìn)行試驗(yàn)，并在工業(yè)觸摸屏顯示試驗(yàn)過程和結(jié)果。2控制系統(tǒng)采用的PLC和觸摸屏通信進(jìn)行控制。3安全性能良好，抗ganraonneg力強(qiáng)，測(cè)試精度高。4自動(dòng)化程度高，按照設(shè)定的試驗(yàn)要求，自動(dòng)升壓到設(shè)定的電壓后，自動(dòng)完成試驗(yàn)并自動(dòng)歸零。5電弱點(diǎn)測(cè)試儀電壓和電流具有自動(dòng)校驗(yàn)功能，方便計(jì)量和校準(zhǔn)。華測(cè)HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀，主要應(yīng)用于新能源汽車用鋰離子電池隔膜電氣絕緣性能缺陷檢測(cè)。采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對(duì)話方式，...2022-04-07
華測(cè)zuixin?研發(fā)高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試儀器它在根本上解決了高低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)量jing準(zhǔn)度Huace650T高低溫冷熱臺(tái)在借鑒國(guó)際zuixianjin的測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有更多的測(cè)試功能，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電加熱采用直流電加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在某些技術(shù)指標(biāo)超過儀器，，同時(shí)測(cè)試功能上也增加了電阻測(cè)試、TSDC等...2022-04-04
1、電壓擊穿試驗(yàn)儀試驗(yàn)過程中不能讓無關(guān)人員靠近，因本試驗(yàn)儀器可產(chǎn)生較高的電壓，未經(jīng)過培訓(xùn)的人員不能使用該設(shè)備。試驗(yàn)時(shí)要有監(jiān)護(hù)人員，不要單人使用。以防萬(wàn)一發(fā)生意外情況。2、長(zhǎng)時(shí)間不使用設(shè)備，在再使用時(shí)，先讓儀器空載加壓一次，即把高壓電極的接線從均壓球上取下。查看計(jì)算機(jī)試驗(yàn)界面，看看高壓電壓是否正常。3、試驗(yàn)中發(fā)生意外情況要及時(shí)切斷電源，問題處理后才能繼續(xù)試驗(yàn)。4、設(shè)備安放要平穩(wěn)，安放的地面要堅(jiān)固。是水泥地面以免產(chǎn)生共振。5、該設(shè)備在使用中外殼要接保護(hù)地線，既設(shè)備外殼接大地,以保...2022-04-04
性能特點(diǎn)：該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用品牌(如歐姆龍，美信，ABB等)，有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓、過...2022-04-02
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，進(jìn)而達(dá)到人機(jī)對(duì)話的方式，是根據(jù)IEC60674-2:2009電氣用塑料薄膜第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001）和GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。產(chǎn)品用途：據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑...2022-04-01
一、電壓作用時(shí)間。電壓作用時(shí)間越長(zhǎng)，擊穿電壓越低，若外施電壓作用時(shí)間很短時(shí)（如0.1s），固體電介質(zhì)被擊穿，這個(gè)時(shí)候時(shí)間太短，熱、化學(xué)等影響還不明顯，這種擊穿很可能是電擊穿。若電壓作時(shí)間時(shí)間較長(zhǎng)時(shí)（如幾分鐘到數(shù)小時(shí)）發(fā)生擊穿，則熱擊穿往往起決定性的作用。實(shí)際上各種擊穿形式之間的界限并不清晰，如在交流1min耐壓試驗(yàn)中發(fā)生的擊穿，則常常是因?yàn)殡姾蜔岬碾p重作用。若在電壓作用時(shí)間長(zhǎng)達(dá)幾個(gè)小時(shí)或更長(zhǎng)的時(shí)間發(fā)生擊穿，大多數(shù)定義為化學(xué)擊穿。注意：很多材料短時(shí)擊穿電壓很高，但他們耐受局部放...
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